射頻導納物位開關測量原理

射頻導納物位開關測量原理  
        射頻導納物位開關控制技術是一種從電容式物位控制技術發展起來的，防掛料（傳感器粘附之物料稱為掛料）性能更好、工作更可靠、測量更準確、適用性更廣的物位控制技術，“射頻導納”中 “導納”的含義為電學中阻抗的倒數，它由阻性成份、容性成份、感性成份綜合而成，而“射頻” 即高頻，所以射頻導納技術可以理解為用高頻電流測量導納的方法。  

        射頻導納物位開關對于傳感器上的粘附物料稱為掛料影響問題，采用一種新的傳感器結構，五層同心結構，見圖 1傳感器結構：*里層是中心探桿，中間是屏蔽層，*外面是接地的安裝螺紋，用絕緣層將其分別隔離起來。與同軸電纜的情況是一樣的，中心探桿與屏蔽層之間沒有電勢差，即使傳感器上掛料阻抗較小，也不會有電流流過，電子儀器測量的僅僅是從傳感器中心到對面罐壁（地）的電流，因為屏蔽層能阻礙電流沿傳感器返回流向容器壁，因而對地電流只能經傳感器末端通過被測物料到對面容器壁。

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